測試(shi)參數：電壓, 電阻(zu)(zu)率, 方(fang)阻(zu)(zu), 電阻(zu)(zu)

    四探針電阻率(lv)測試儀(yi)，可測量片(pian)狀、塊狀半(ban)導體(ti)材料的(de)徑(jing)向和軸(zhou)向電阻率(lv)及擴散(san)層的(de)薄層電阻，適用于半(ban)導體(ti)和太陽能材料測試的(de)要求，也可對分(fen)立(li)電阻進行測量。

 專(zhuan)用(yong)四(si)端探(tan)針(zhen)測試線(xian)！